Nagroda dla prof. J. Tyszera od IEEE Int. Test Conference

Drukuj

Najważniejsza światowa konferencja naukowa w dziedzinie testowania układów scalonych, IEEE International Test Conference (ITC), przyznała w bieżącym roku prof. Jerzemu Tyszerowi nagrodę za najbardziej wpływową pracę ostatniego dziesięciolecia, za którą uznano artykuł pt. „Embedded deterministic test for low cost manufacturing test” opublikowany na ITC w 2002 roku. Profesor Jerzy Tyszer jest jednym z współautorów tej publikacji. Technologa EDT jest oferowana na rynku przez amerykańską firmę Mentor Graphics. Większość światowej produkcji cyfrowych układów scalonych wielkiej skali integracji jest obecnie testowana przy pomocy tej technologii.

Załączniki:
Pobierz plik (Embedded deterministic test for low cost manufacturing test.pdf)Embedded deterministic test for low cost manufacturing test.pdf754 Kb11/25/12 18:26
Poprawiony: niedziela, 25 listopada 2012 15:01