Wydział Elektroniki i Telekomunikacji

  • Zwiększ rozmiar czcionki
  • Domyślny  rozmiar czcionki
  • Zmniejsz rozmiar czcionki
Badania > Nagrody
Pracownicy

IEEE European Test Symposium Best Paper Award

Drukuj

Mamy przyjemność poinformować, ze artykuł pt. "Diagnosis of Failing Scan Cells through Orthogonal Response Compaction", prezentowany w ubiegłym roku przez prof. Jerzego Tyszera i Jedrzeja Soleckiego, studenta IV roku kierunku informatyka przygotowującego pracę magisterską pod kierunkiem prof. J. Tyszera, otrzymal najbardziej prestiżową nagrodę europejską w dziedzinie testowania systemów cyfrowych - IEEE European Test Symposium Best Paper Award.

Nagroda zostanie wręczona w maju w Norwegii. Współautorami nagrodzonej pracy są pracownicy Mentor Graphics.

Członkowie zespołu zajmującego sie problematyką VLSI test byli już wcześniej laureatami miedzy innymi tak prestiżowych wyróżnień jak:

  • IEEE VLSI Test Symposium Best Paper Award,
  • IEEE International Test Conference Best Paper Award,
  • IEEE Circuits and Systems Society Donald Pederson Outstanding Paper Award,
  • Test of Time Award,
  • IEEE VLSI Design Conference Best Paper Award.
Poprawiony: piątek, 08 kwietnia 2011 08:41
 


Strona 12 z 12

Film o Wydziale Elektroniki i Telekomunikacji

.


Szukaj

Ogłoszenia


Research Guide - Faculty of Electronics and Telecommunications